赫爾納供應(yīng)美國Bristol Babcock采集模塊

赫爾納供應(yīng)美國Bristol Babcock采集模塊

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng),美國總部直接采購，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品，為您提供一對一好的解決方案，貨期穩(wěn)定。

公司簡介：

艾默生（Emerson）成為一個(gè)伙伴，他們不斷幫助他們應(yīng)對下一個(gè)自動(dòng)化組合使我們能夠進(jìn)行協(xié)作，以根據(jù)我們深厚的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)為客戶開發(fā)完整的解決方案。我們用我們的業(yè)務(wù)，領(lǐng)域知識和工業(yè)軟件來幫助行業(yè)實(shí)現(xiàn)的可持續(xù)性。

Bristol Babcock采集模塊主要產(chǎn)品：

Bristol Babcock采集模塊

Bristol Babcock控制器

Bristol Babcock電磁閥

Bristol Babcock采集模塊產(chǎn)品特點(diǎn)：

視覺開發(fā)模塊可幫助您開發(fā)軟件，以用于機(jī)器視覺和圖像處理應(yīng)用程序。該模塊可與LabVIEW圖形化編程環(huán)境、C、C++和C＃環(huán)境（用于Windows系統(tǒng)）以及LabVIEW（用于實(shí)時(shí)系統(tǒng)）搭配使用。

Bristol Babcock采集模塊產(chǎn)品應(yīng)用：

Bristol Babcock采集模塊您可從數(shù)百個(gè)圖像處理算法中進(jìn)行選擇，包括濾波、形態(tài)學(xué)、模式匹配和分類。視覺開發(fā)模塊包括針對處理器和FPGA的IP，并具備模型導(dǎo)入器，以使用TensorFlow開發(fā)的深度學(xué)習(xí)模型進(jìn)行推理。NI mioDAQ具有20位分辨率、Bristol Babcock采集模塊引導(dǎo)設(shè)置、USB-C總線電源的軟件選項(xiàng)，可為工程師提供更方便的高質(zhì)量測量，從而在問題造成及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決。NI提供的模塊化硬件、軟件、服務(wù)和系統(tǒng)樹立了自動(dòng)化測試和測量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)。讓我們一起尋找適合您的產(chǎn)品，幫助您快速進(jìn)行測試，進(jìn)行設(shè)計(jì)，提高測試可靠性并充分用您的測試數(shù)據(jù)。

Bristol Babcock采集模塊NI硬件包含豐富的I/O和組件，可幫助您質(zhì)量的系統(tǒng)。Bristol Babcock采集模塊產(chǎn)品包含各種應(yīng)用型和測量型模塊、協(xié)議支持、支持FPGA的硬件以及針對工業(yè)和惡劣環(huán)境的選件。

Bristol Babcock采集模塊的電子測試和儀器產(chǎn)品具有用的同步功能和主要的軟件功能，可實(shí)現(xiàn)高性能的自動(dòng)化測試、設(shè)計(jì)和設(shè)備驗(yàn)證。隨著無線通信的界限不斷突破，Bristol Babcock采集模塊對快速原型驗(yàn)證和生產(chǎn)測試提供了各種軟件無線電設(shè)備、發(fā)生器、分析儀和收發(fā)儀。存儲(chǔ)芯片等集成在一塊電路板上，使其具有發(fā)送通過遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)采集模塊平臺收發(fā)短消息、語音通話、數(shù)據(jù)傳輸?shù)裙δ堋?/span>Bristol Babcock采集模塊遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)采集模塊可以實(shí)現(xiàn)普通遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)采集模塊手機(jī)的主要通信功能，也可以說是一個(gè)"精簡版"的手機(jī)。電腦、單片機(jī)、ARM可以通過RS232串口與遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)采集模塊相連.

Bristol Babcock采集模塊使用視覺開發(fā)模塊，機(jī)器視覺軟件。您可以為應(yīng)用程序選擇合適的硬件，并配置相機(jī)、采集圖像和分析檢測結(jié)果，以構(gòu)建自定義的機(jī)器視覺系統(tǒng)。

Bristol Babcock采集模塊您可以自動(dòng)檢測相機(jī)并快速查看圖像，以正確的相機(jī)配置。 借助圖形化編程環(huán)境和可配置的算法工程開發(fā)工具，實(shí)現(xiàn)數(shù)百種算法，如模式匹配、OCR和邊緣檢測。 通過與NI和硬件的緊密集成，更新機(jī)器視覺系統(tǒng)，測試要求。